白光干涉測厚儀

產(chǎn)品介紹：白光干涉測厚儀根據(jù)反射回來的干涉光，用反復校準的算法快速反演計算出薄膜的厚度。測量范圍1nm-3mm，可同時完成多層膜厚的測試。對于100nm以上的薄膜，還可以測量n和k值。
產(chǎn)品型號：Detla
更新時間：2025-09-30
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
產(chǎn)品品牌：貝拓科學
產(chǎn)品廠地：廣州市
訪問次數(shù)：7025
在線留言 400-875-1717轉(zhuǎn)809

產(chǎn)品介紹

品牌	貝拓科學	價格區(qū)間	面議
產(chǎn)地類別	國產(chǎn)	應用領域	化工,生物產(chǎn)業(yè),電子/電池,包裝/造紙/印刷,紡織/印染

白光干涉測厚儀介紹

白光干涉儀利用薄膜干涉光學原理，對薄膜進行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面，探頭同位接收反射光線。TF200根據(jù)反射回來的干涉光，用反復校準的算法快速反演計算出薄膜的厚度。測量范圍1nm-3mm，可同時完成多層膜厚的測試。對于100nm以上的薄膜，還可以測量n和k值。
白光干涉膜厚儀

白光干涉測厚儀特點

快速、準確、無損、靈活、易用、性價比高

應用案例

應用領域

半導體（SiO2/SiNx、光刻膠、MEMS，SOI等）

LCD/TFT/PDP(液晶盒厚、聚亞酰胺ITO等)

LED(SiO2、光刻膠ITO等）

觸摸屏(ITOARCoating反射/穿透率測試等)

汽車(防霧層、HardCoatingDLC等）

技術參數(shù)

型號	TF200-VIS	TF200-EXR	TF200-DUV	TF200-XNIR
波長范圍	380-1050nm	380-1700nm	190-1100nm	900-1700nm
厚度范圍	50nm-40um	50nm-300um	1nm-30um	10um-3mm
準確度¹	2nm	2nm	1nm	10nm
精度	0.2nm	0.2nm	0.2nm	3nm
入射角	90°	90°	90°	90°
樣品材料	透明或半透明	透明或半透明	透明或半透明	透明或半透明
測量模式	反射/透射	反射/透射	反射/透射	反射/透射
光斑尺寸²	2mm	2mm	2mm	2mm
是否能在線	是	是	是	是
掃描選擇	XY可選	XY可選	XY可選	XY可選

注：1.取決于材料0.4%或2nm之間取較大者。

2.可選微光斑附件。

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